Matavimai 2

Tema	Elektronika
Tipas	Konspektas
Aprašymas	Naudojant mažos aukšto dažnio įtampas įtaką daro triukšmai, o taip pat elektromagnetiniai trukdymai. Trukdymų įtakos sumažinimui aukšta ominėse grandinėse naudojamos simetrinio įėjimo schemos, tuomet sinfaziniai trukdymai sumažėja 40-60dB.
Patalpinta	2005-08-20
Parsisiuntė	1049
	Parsisiųsti324 KB

Išsamus aprašymas

Srovės matavimas žemuosiuose dažniuose.
Aukštų dažnių srovės matavimas.
Įtampos matavimas.
Nuolatinės įtampos matavimas.
Kompleksinis nuolatinės įtampos matavimo metodas.
Kintamos įtampos matavimas.
Kintamos įtampos matavimo ypatumai.
Skaitmeninis įtampos matavimas.
Galios matavimai.
Galios matavimas pramoninių dažnių grandinėse.
Galios matavimas aukštesniuose dažniuose.
Galios matavimas mikrobanginiame ruože.
Kalorimetras.
Balometrai (met) arba termistoriai (pusl).
Dažnio ir laiko intervalų matavimas.
Skaitmeninis dažnio matavimas.
Dažnio matavimas palyginimo metodu.
Dažnių matavimas mikrobanginiame ruože.
Laiko intervalo matavimas.
Fazinio kampo matavimas.
Grandžių fazinių charakteristikų matavimas.
Fazinių matavimų ypatumai.
Fazinio kampo matavimo metodai.
Elektroninis fazometras (fazometras su formuotuvais).
Kompensacinis matavimo metodas.
Fazės sukikliai.
Fazinio kampo matavimas aukštuose dažniuose (10mhz – ghz).
Schemos elementų parametrų matavimas.
R, l, c, q, tg δ dydžių matavimas.
Rezonansiniai matavimo metodai.
Kompleksinių varžų pokyčių matavimas.
Autogeneratotiniai matuokliai.
Netradiciniai r, l, c matavimo taikymai.
Spektro matavimas.
Lygiagretus spektro analizatorius.
Nuoseklus spektro analizatorius.
Skaitmeninis spektro matavimas.
Spektro matavimo taikymas.
Netiesinių iškraipymų matavimas.
Dažninių amplitudinių charakteristikų matavimas dach.
41.osciloskopai.
Pagrindinės osciloskopų charakteristikos.
Bendros paskirties osciloskopas.
Specialūs osciloskopai.
Metrologinės problemos.
Skaitmeniniai osciloskopai.
Matavimo vystymosi perspektyvos.

Raktiniai žodžiai

• matavimai
• fazometras
• galios matavimas