|
|
Jungiklių tyrimas
| Tema |
Elektronika |
| Tipas |
Tyrimas |
| Aprašymas |
Darbo tikslas
Ištirti diodinių ir tranzistorinių jungiklių pereinamuosius procesus. Išmokti matuoti elektroninių
jungiklių kokybinius rodiklius.
|
| Patalpinta |
2005-08-17 |
| Parsisiuntė |
447 |
|
|
Išsamus aprašymas
Ištirti diodinius jungiklius keičiant įėjimo (ar valdymo) impulsų srovės (ir įtampos) amplitudę,
paskiau – impulsų trukmę:
a) nubraižyti pereinamųjų signalų oscilogramas; išmatuoti ir oscilogramose nurodyti svarbiausius
įtampos lygius ir svarbiausius impulsų parametrus;
b) ištirti pereinamųjų procesų priklausomybę nuo diodo tipo (sparčiaveikis diodas, lėtaveikis diodas), taip pat nuo įėjimo (ar valdymo) impulsų amplitudės ir trukmės;
c) iš oscilogramos oscilografo ekrane ir jungiklio elementų parametrų nustatyti kaupiančiąją ir
siurbiančiąją sroves (I1, I2) bei atsigavimo (ar atsikūrimo) trukmės tarpsnius (stadijas) (t1, t2).
PASTABA Kadangi stende nėra galimybės keisti jungiklių elementų parametrus, jungiklių darbo režimai keičiami keičiant įėjimo impulsų parametrus.
Raktiniai žodžiai
- tranzistorinis jungiklis
- jungiklių tyrimas
- jungikliu tyrimas
|
Darbų paieška
Naujausi darbai
Naudingos nuorodos
|